XPS - Espectroscopía de fotoelectrones Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X en materiales con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV): Polvos, películas delgadas, polímeros, cerámicos, etc. incluye el ajuste de los datos por picos Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X en materiales con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV): Polvos, películas delgadas, polímeros, cerámicos, metáles, etc. incluye el ajuste de los datos por picos y análisis de composición Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X con resolución angular (ARXPS) en películas conformes y superficies planas con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV), incluye ajuste por picos Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X con resolución angular (ARXPS) en películas conformes y superficies planas con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV), incluye ajuste por picos y análisis de composición en función de la profundidad (máximo 8 nm). Solicite este servicio aquí Print
