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XPS - Espectroscopía de fotoelectrones

 

  • Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X en materiales con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV): Polvos, películas delgadas, polímeros, cerámicos, etc. incluye el ajuste de los datos por picos
  • Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X en materiales con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV): Polvos, películas delgadas, polímeros, cerámicos, metáles, etc. incluye el ajuste de los datos por picos y análisis de composición
  • Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X con resolución angular (ARXPS) en películas conformes y superficies planas con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV), incluye ajuste por picos
  • Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X con resolución angular (ARXPS) en películas conformes y superficies planas con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV), incluye ajuste por picos y análisis de composición en función de la profundidad (máximo 8 nm).
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13/06/2023 12:14:04 p. m.